硬盤(pán)物理故障的外部檢測(cè)

硬盤(pán)故障分為物理故障和邏輯故障兩大類，本文主要講解物理故障的檢測(cè)、判定及修復(fù)，硬盤(pán)數(shù)據(jù)恢復(fù)。

外部故障的類型和檢測(cè)方法

硬盤(pán)的外部故障主要是指電路板故障，硬盤(pán)的電路板一般是六層板，電路板上分布著主控芯片、緩存、電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片、BIOS及電子元器件等，電路板的故障一般表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

1、供電的故障

硬盤(pán)的供電來(lái)自主機(jī)的開(kāi)關(guān)電源，四個(gè)接線柱的電壓分別為：紅色為正5V，黑色為地線，黃色為正12V，通過(guò)線性電源變換電路，變換為硬盤(pán)正常工作的各種電壓。硬盤(pán)的供電電路如果出現(xiàn)問(wèn)題，會(huì)直接導(dǎo)致硬盤(pán)不能工作。故障現(xiàn)象往往表現(xiàn)為不通電、硬盤(pán)檢測(cè)不到、盤(pán)片不轉(zhuǎn)、磁頭不尋道等。供電電路常出問(wèn)題的部位是：插座的接線柱、濾波電容、二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、電感、保險(xiǎn)電阻等。

2、接口故障

接口是硬盤(pán)與計(jì)算機(jī)之間傳輸數(shù)據(jù)的通路，接口電路如出現(xiàn)故障可能會(huì)導(dǎo)致硬盤(pán)檢測(cè)不到、亂碼、參數(shù)誤認(rèn)等現(xiàn)象。接口電路常出故障的部位是接口芯片或與之匹配的晶振、接口插針折斷、接口虛焊、接口排阻損壞等。

3、緩存故障

緩存用于加快硬盤(pán)數(shù)據(jù)傳輸速度，如出現(xiàn)問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致硬盤(pán)不被識(shí)別、亂碼、進(jìn)入操作系統(tǒng)后異常死機(jī)等現(xiàn)象。

4、BIOS故障

BIOS用于保存如硬盤(pán)容量、接口信息等參數(shù)，硬盤(pán)所有的工作流程都與BIOS程序相關(guān)，通斷電瞬間可能會(huì)導(dǎo)致BIOS程序丟失或紊亂。BIOS不正常會(huì)導(dǎo)致硬盤(pán)認(rèn)錯(cuò)型號(hào)、不能識(shí)別等各種各樣的故障現(xiàn)象。

如果硬盤(pán)的電路板燒壞，常見(jiàn)的表現(xiàn)就是通了電后沒(méi)有任何反應(yīng)，可以把硬盤(pán)拿在手上，感覺(jué)它是否轉(zhuǎn)動(dòng)，也可以通過(guò)查看電路板上的元器件是否有明顯燒焦的痕跡來(lái)判斷。