IC集成電路老化測(cè)試座

該產(chǎn)品用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產(chǎn)企業(yè)，可配進(jìn)口老化臺(tái)、老化板做器件及高、低溫測(cè)試、老化篩選作連接之用。

產(chǎn)品型號(hào)及規(guī)格；

4M-68J

主要技術(shù)指標(biāo)；

間距；1.27mm

環(huán)境溫度；-55℃—+155℃ 接觸電阻；≤0.01歐

工作電壓；DC500V

單腳插入力；≤0.2Kg

彈片金層厚度；1um鎳2um金 封裝形式：CPGA