一、 設(shè)備用途:
該設(shè)備系寧波品創(chuàng)檢測設(shè)備有限公司根據(jù)用于檢測電梯光幕的探測距離、距離偏移值、偏轉(zhuǎn)角度值、探測性能綜合試驗、動作時間試驗、抗干憂試驗可靠性壽命試驗;設(shè)備采用PLC與工控電腦控制,采用數(shù)控技術(shù)原理,試驗參數(shù)直接在電腦上設(shè)置,試驗數(shù)據(jù)直接從電腦上讀取。
檢驗項目
檢驗內(nèi)容與要求
檢驗方法
有效探測距離試驗
5.5m±0.01m;
確定光幕正確安裝并無錯位、偏轉(zhuǎn)及中間無遮擋后,接收端從零位緩慢向外移動,同時監(jiān)測光幕的穩(wěn)定性,直到光幕發(fā)出報警,此時的距離即為光幕的接收距離。
零距離錯位試驗
垂直允許錯位距離50mm±1mm;
將光幕按正常工作位置安裝在夾具上,調(diào)整夾具使光幕發(fā)射端與接收端處于對中位置,此時將電腦內(nèi)位置數(shù)據(jù)清零;向上移動光幕發(fā)射端,當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止移動,此時的位移值即為向上垂直錯位距離;將光幕發(fā)射端回歸零位,然后向下移動光幕發(fā)射端,當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止移動,此時的位移值即為向下垂直錯位距離。
水平允許錯位距離50 mm±1mm;
將光幕按正常工作位置安裝在夾具上,調(diào)整夾具使光幕發(fā)射端與接收端處于對中位置,此時將電腦內(nèi)位置數(shù)據(jù)清零;向前移動光幕發(fā)射端,當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止移動,此時的位移值即為向前水平錯位距離;將光幕發(fā)射端回歸零位,然后向后移動光幕發(fā)射端,當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止移動,此時的位移值即為向后水平錯位距離。
角度錯位試驗
縱向錯位角度±15o;
將光幕按正常工作位置安裝在夾具上,調(diào)整夾具使光幕發(fā)射端與接收端處于對中位置,此時將電腦內(nèi)位置數(shù)據(jù)清零;順時針轉(zhuǎn)動光幕接收端(旋轉(zhuǎn)軸心線為接收端前表面垂直中心線),當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止轉(zhuǎn)動,此時的偏轉(zhuǎn)值即為向順時針縱向錯位角度;將光幕發(fā)射端回歸零位,然后逆時針轉(zhuǎn)動光幕接收端,當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止轉(zhuǎn)動,此時的偏轉(zhuǎn)值即為向逆時針縱向錯位角度。
橫向錯位角度±15o。
將光幕按正常工作位置安裝在夾具上,調(diào)整夾具使光幕發(fā)射端與接收端處于對中位置,此時將電腦內(nèi)位置數(shù)據(jù)清零;順時針轉(zhuǎn)動光幕接收端(旋轉(zhuǎn)軸心線為接收端前表面水平中心線),當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止轉(zhuǎn)動,此時的偏轉(zhuǎn)值即為向順時針橫向錯位角度;將光幕發(fā)射端回歸零位,然后逆時針轉(zhuǎn)動光幕接收端,當(dāng)光幕發(fā)出接收失效報警后,停止轉(zhuǎn)動,此時的偏轉(zhuǎn)值即為向逆時針橫向錯位角度。
探測性能綜合試驗
遮光棒、遮光板、遮光條探測盲區(qū)
遮光棒自光幕一端移動到另一端,移動過程中,適時監(jiān)測光幕狀態(tài),標(biāo)定光幕的感應(yīng)區(qū)與盲區(qū),并可以結(jié)合遮光棒的直徑計算出感應(yīng)區(qū)與盲區(qū)尺寸。
動作時間試驗
遮光響應(yīng)時間、恢復(fù)時間,試驗精度0.01s。
遮光棒自上而下勻速移動,移動過程中適時監(jiān)控光幕的報警狀態(tài),結(jié)合光棒的移動速度,繪出狀況反應(yīng)曲線,軟件可根據(jù)曲線圖測量光幕的反應(yīng)時間、恢復(fù)時間。
干擾試驗
光干擾,光強度20000~100000 Lx
從光幕的接收端對面向接收端發(fā)射對應(yīng)強度的白光,此時監(jiān)測光幕的狀態(tài),檢測光幕抗光干憂性能。
電壓波動干擾試驗
迅速切換電源的電壓,同時監(jiān)測光幕的狀態(tài),檢測光幕抗電壓波動干憂性能。
變頻器
啟動設(shè)備內(nèi)的變頻器,同時監(jiān)測光幕的狀態(tài),檢測光幕抗變頻干憂性能。
接觸器
啟動設(shè)備內(nèi)的接觸器,同時監(jiān)測光幕的狀態(tài),檢測光幕抗接觸器干憂性能。
可靠性壽命試驗
測量和記錄運行時間、運行次數(shù)、失效次數(shù)。
用一塊遮光板按設(shè)定的速度從光幕中間插入與移開,同時監(jiān)測光幕的狀態(tài),直到完成設(shè)定的測試次數(shù)或樣品失效。