對于某些無法通過外觀檢查的部分以及PCB內(nèi)部的通孔和其他內(nèi)部缺陷,我們必須使用X射線透視檢查系統(tǒng) 去檢查。 X射線熒光透視系統(tǒng)使用不同的材料厚度或不同的材料密度來吸收X射線或通過不同的原理透射光。 此技術(shù)更多地用于檢查PCBA焊點(diǎn)內(nèi)部的缺陷,通孔內(nèi)部的缺陷以及高密度封裝BGA或CSP器件的缺陷焊點(diǎn)的位置。 當(dāng)前的工業(yè)X射線熒光透視設(shè)備的分辨率可以達(dá)到小于一微米,并且它已經(jīng)從二維成像設(shè)備轉(zhuǎn)變?yōu)槿S成像設(shè)備。 甚至五維(5D)設(shè)備都已用于包裝檢查,但是這種5D X熒光透視系統(tǒng)非常昂貴,很少在工業(yè)中得到實(shí)際應(yīng)用。
切片分析是通過一系列方法和步驟(例如取樣,鑲嵌,切片,拋光,腐蝕, 和觀察。 通過切片分析,您可以獲得有關(guān)PCB微觀結(jié)構(gòu)的豐富信息(通孔,電鍍等),這為下一步的質(zhì)量改進(jìn)提供了良好的基礎(chǔ)。 但是,此方法具有破壞性。 切片后,樣品將被銷毀。 同時,該方法需要大量的樣品制備,并且樣品制備需要很長時間,這需要訓(xùn)練有素的技術(shù)人員來完成。 有關(guān)詳細(xì)的切片過程,請參閱IPC-TM-650 2.1.1和IPC-MS-810過程。