美國博曼出品C30-P1探頭，用于配置博曼BM-C30銅箔厚度測試儀，測量PCB表面銅箔的厚度創(chuàng)新的設(shè)計(jì)，確保探頭可以垂直測量，獲得更高的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

C30-P1探頭的特點(diǎn)：

快速，準(zhǔn)確，非破壞性檢測銅箔厚度，透明保護(hù)罩，確保探頭可以垂直測量，可更換式T1探針，用戶簡易更換，降低使用成本，柔軟，高強(qiáng)抗拉導(dǎo)線，堅(jiān)實(shí)耐用，彈性伸縮接觸式探針避免銅箔劃傷，將銅針放到銅箔表面開始測量。