膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x，又稱金屬涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。鼎極天代理的美國(guó)博曼高性能XRF鍍層測(cè)厚儀,多年深耕鍍層測(cè)厚事業(yè)經(jīng)歷不斷創(chuàng)新、追求、獲得廣泛好評(píng)廣的鍍層厚度測(cè)量范圍（可對(duì)13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素進(jìn)行高精度測(cè)量分析）-常見(jiàn)的鍍層應(yīng)用-全新的智能化機(jī)型-直觀的用戶界面- 前沿的XRF技術(shù)-全球的U-Spot多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)成為越來(lái)越多行業(yè)的滿意選擇可為您提供高精度。