刻度實驗架XCY-KD500-07

簡介：XCY-KD500-07實驗架是深圳市新次元科技有限公司設計研發(fā)的一款可以同時夾持4個相機的實驗平臺，該測試平臺帶刻度，可以讀取單個相機旋轉角度，2個相機整體上下傾斜角度，以及相機之間距離，能方便客戶讀取需要的數(shù)據(jù)，相機固定部分能整體前后拉伸，主桿高度60cm。

參數(shù)：

相機夾持范圍：21mm-51mm

相機左右移動范圍：60-500mm

相機整體部分可以前后拉伸260mm，上下傾斜正負90度

底板尺寸：12*550*750mm

光源架可以托各種光源，360度旋轉，安裝方式多變