西安千月電子科技有限公司通過整合省內(nèi)外高校、研究所及相關(guān)企業(yè)測試資源，建設了測試服務平臺，具備材料組分、結(jié)構(gòu)、表面形貌、電學特性及可靠性測試能力。公司具有多名材料及半導體背景的技術(shù)人員，可為您提供一對一的測試及分析服務，為您科研提供有力支持。同時更歡迎科研人才，有識之士加入千月團隊！

測試服務:

高分辨透射電子顯微鏡（TEM）

JEM-3010

掃描電鏡SEM

zeiss SIGMA 500

JEM-6700F

FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50

S3400N

原子力顯微鏡(AFM)

Veece nanoscopeⅢA型

超聲波掃描（SAM）

Sonoscan D24

X射線衍射儀XRD

XRD-7000

X'Pert Pro

日本理學Dmax-Rapid II

X射線光電子能譜儀(XPS）

AXIS ULTRA

X射線檢測（X-Ray）

Phoenix MICROME|X 180T

激光拉曼光譜儀

Renishaw inVia Reflex

傅立葉變換紅外光譜儀

JOEL FTIR8400

穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀

FLS980

PL熒光光譜量測系統(tǒng)

S301-058/059

PL映射系統(tǒng)PL MAPPING SYSTEM

Platom RPM blue

靜電衰減測試儀

JCI155v6

介電阻抗譜測試

Novocontrol GmbH Concept 40

步入式現(xiàn)場環(huán)境模擬系統(tǒng)(恒溫恒濕環(huán)境)

X-73

高低溫沖擊試驗箱

ETH80-40A

電阻率測試儀

NIPPON

膜厚測試儀

橢偏儀

C-V測試

420S

B1500

探針臺

EB12/PSM1000

EPS 150TRIAX

激光共聚焦

OLS4100

綜合物性測量

VersaLab

ECV

EP-RE-0051

顆粒儀(自動光學檢查系統(tǒng))

nSpec

可見分光光度計

CARY 5000

紫外可見分光光度計

Lambda950

臺階儀

布魯克Dektak XT

A-Step膜厚段差測量儀

Dektak150

EL量測試系統(tǒng)

ELV1-MP3

金相顯微鏡

BX51M

HALL載流子濃度測試儀

HL5500PC