ZK200涂層測(cè)厚儀采用磁性和渦流兩種測(cè)厚原理方法，選擇相應(yīng)的探頭，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。配合先進(jìn)的實(shí)時(shí)溫度補(bǔ)償技術(shù)，實(shí)現(xiàn)測(cè)量

存儲(chǔ)容量500組

采用軍工級(jí)ABS強(qiáng)塑外殼，小巧、便攜、堅(jiān)實(shí)耐用，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾

產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4957-1985 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

測(cè)量范圍：標(biāo)準(zhǔn)探頭0-1500um;選配探頭0-10000um

示值精度:±(2%H+1)um; H為被測(cè)涂層厚度

存儲(chǔ)容量:可存儲(chǔ)500組（測(cè)量時(shí)間、測(cè)頭類型等信息）

通訊接口：USB接口可與計(jì)算機(jī)連接、通訊

測(cè)量模式：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量模式、掃描測(cè)量模式、差值模式、平均值模式

基體厚度(磁感模式0.5 mm,渦流模式0.3 mm)

整機(jī)重量：300g

儀器主機(jī)、鐵基測(cè)頭、涂層測(cè)厚基體塊、標(biāo)準(zhǔn)厚度試片、通訊電纜1根、電池、儀器箱、說明書以及隨機(jī)資料等