LJZ型雙列集成電路老化測試插座

該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測試、篩選及可靠性試驗作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊

產(chǎn)品型號及規(guī)格；

LJZ-14、16、18、24、28、40

主要技術(shù)指標；

間距；2.54mm

環(huán)境溫度；-55℃—+155℃

接觸電阻；≤0.01歐

工作電壓；DC500V

單腳插入力；≤0.2Kg

彈片金層厚度；1um鎳2um金