半導(dǎo)體模塊老化測試夾具
該系列夾具適用于C2型半導(dǎo)體模塊的老化、測試、篩選及可靠性試驗(yàn)作連接之用。產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于
航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊.
產(chǎn)品規(guī)格型號:C2型
主要技術(shù)指標(biāo);
適應(yīng)環(huán)境溫度;-55℃—+155℃ 工作電壓;DC1200V 探針金層厚度;4umAu:lu(鎳金)
半導(dǎo)體模塊老化測試夾具
該系列夾具適用于C2型半導(dǎo)體模塊的老化、測試、篩選及可靠性試驗(yàn)作連接之用。產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于
航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊.
產(chǎn)品規(guī)格型號:C2型
主要技術(shù)指標(biāo);
適應(yīng)環(huán)境溫度;-55℃—+155℃ 工作電壓;DC1200V 探針金層厚度;4umAu:lu(鎳金)
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