可對離子遷移・絕緣電阻值進(jìn)行高精度・高信賴性・率的評價。

從當(dāng)今的地球・市場環(huán)境來看，省能源・鉛/無鹵素・小型輕量・低價格・高信賴等觀點(diǎn)出發(fā)的，

新素材・新實(shí)裝方法的研究開發(fā)・評價方法的重估是必須的。

J-RAS公司把握市場的需要，為您提供容易操作而且可以進(jìn)行高信賴性評價試驗(yàn)的，

新時代離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 ECM-100系列。

簡介：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流

電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的

現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ION MIGRATION TESTING）

適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001

項(xiàng)目