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GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)

本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱里兩類試驗(yàn)樣品.本標(biāo)準(zhǔn)于用來考核確定電工,電子產(chǎn)品(包括元件,設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應(yīng)性.

低溫試驗(yàn)不能用來考核試驗(yàn)樣品對(duì)溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應(yīng)選擇溫度變化試驗(yàn)方法.

非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn):溫度突變和溫度漸變?cè)囼?yàn)2種類型;

散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn): 溫度漸變?cè)囼?yàn)一種類型.

本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品.試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算.在特殊情況下,如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定,則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開始計(jì)算.

非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變或溫度漸變的低溫試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)的選擇:

零下65攝氏度

零下55攝氏度

零下40攝氏度

零下25攝氏度

零下10攝氏度

零下5攝氏度

零上5攝氏度

溫度范圍可以正負(fù)偏差3度,試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間一般有:2h,16h,72h,96h.或根據(jù)產(chǎn)品自身的使用環(huán)境選擇試驗(yàn)時(shí)間。若試驗(yàn)?zāi)康膬H僅是檢查試驗(yàn)樣品在低溫時(shí)是否正常工作，則試驗(yàn)的時(shí)間只限于使樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定。

散熱試驗(yàn)樣品的溫度漸變?cè)囼?yàn)和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)條件一致。