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GB/T2423.22-2002/IEC60068-2-14:1984電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法:試驗N:溫度變化試驗

溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響.

本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響,對這種影響,應(yīng)使用高溫或低溫試驗方法.

影響溫度變化試驗的主要參數(shù)是:

溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值;

試驗樣品在高溫和低溫下的保持時間;

低溫到高溫或高溫到低溫之間的溫度變化的速率;

條件試驗的循環(huán)數(shù);

試驗樣品吸收或放出的總熱量.

試驗Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時間的快速溫度變化

試驗的目的：確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。所需的暴露時間，取決于試驗樣品的性質(zhì)。

試驗是將試驗樣品交替暴露于低溫核高溫空氣中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。

一般的溫度范圍是在GB2423.1和GB2423.2種選取。試驗的循環(huán)數(shù)一般為5次循環(huán)，溫度的轉(zhuǎn)換時間為2-3min.

試驗Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化試驗

試驗?zāi)康模捍_定元件設(shè)備及其他產(chǎn)品耐環(huán)境溫度變化的能力和在環(huán)境溫度變化期間的工作能力。

試驗是將試驗樣品暴露在能以一定控制速率變化到規(guī)定溫度的試驗箱中，在暴露期間可以監(jiān)測試驗樣品的性能。

一般的溫度范圍是在GB2423.1和GB2423.2種選取。試驗的循環(huán)數(shù)一般為2次循環(huán)，溫度變化速率一般在1度/min,3度/min,5度/min.